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北京 顯微光致發(fā)光 光譜儀

  • 產(chǎn)品型號:Flex One
  • 產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-20
  • 簡(jiǎn)要描述:卓立漢光供應顯微光致發(fā)光光譜儀:是目前市場(chǎng)上 具性?xún)r(jià)比的的顯微PL光譜測量的解決方案。光致發(fā)光(photoluminescence) 即PL,是用紫外、可見(jiàn)或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,在半導體材料的發(fā)光特性測量應用中通常是用激光激發(fā)材料產(chǎn)生熒光,通過(guò)對其熒光光譜的測量,分析該材料的光學(xué)特性
  • 產(chǎn)品介紹

Flex One 顯微光致發(fā)光光譜儀

● 一體化的光學(xué)調校

——所有光學(xué)元件只需要在初次安裝時(shí)

進(jìn)行調校,確保高效性和易用性

● 簡(jiǎn)單易用的雙光路設計

——可隨意在水平和垂直光路上進(jìn)行切

換,適用于各種常見(jiàn)的樣品形態(tài)

● 超寬光譜范圍**

——300nm-2200nm

● 視頻監視光路 

——可供調整測試點(diǎn)

● *的發(fā)射光譜校正功能*

——讓光譜測量更精準且具有可比性                     

● 多種激發(fā)波長(cháng)可選**

——325nm,405nm,442nm,

473nm,532nm,633nm,785nm等

● 自動(dòng)mapping功能可選*

——50mm×50mm測量區間,可定制

特殊規格

● 電致發(fā)光(EL)功能可選*

——擴展選項

● 顯微拉曼光譜測量功能可選*

——擴展選項

● 超低溫測量附件可選*

——提供10K以下的超低溫測量

*選配項,請詳細咨詢(xún); **需根據實(shí)際需要進(jìn)行配置確定。   

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

    光致發(fā)光(photoluminescence) 即PL,是用紫外、可見(jiàn)或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,在半導體材料的發(fā)光特性測量應用中通常是用激光(波長(cháng)如325nm、532nm、785nm 等)激發(fā)材料(如GaN、ZnO、GaAs 等)產(chǎn)生熒光,通過(guò)對其熒光光譜(即PL 譜)的測量,分析該材料的光學(xué)特性,如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結構、成分及環(huán)境原子排列的信息,是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法,因而在物理學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)及分子生物學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應用。傳統的顯微光致發(fā)光光譜儀都是采用標準的顯微鏡與熒光光譜儀的結合,但是傳統的顯微鏡在材料的PL 譜測量中,存在很大的局限性,比如無(wú)法靈活的選擇實(shí)驗所需的激光器(特別對于UV 波段的激光器,沒(méi)有足夠適用的配件),無(wú)法方便的與超低溫制冷機配合使用,采用光纖作為光收集裝置時(shí)耦合效率太低等等問(wèn)題,都是采用標準顯微鏡難以回避的問(wèn)題。
    北京卓立漢光儀器有限公司結合了公司十余年熒光光譜儀和光譜系統的設計經(jīng)驗和普遍用戶(hù)的實(shí)際需求,推出了“Flex One( 微光)”系列顯微光致發(fā)光光譜儀,有效的解決了上述問(wèn)題,是目前市場(chǎng)上 具性?xún)r(jià)比的的顯微PL 光譜測量的解決方案。

( 產(chǎn)品圖片僅供參考,以實(shí)際系統配置為準)
系統組成
● 激發(fā)光源部分:紫外-近紅外波段各種波長(cháng)激光器
● 顯微光路部分:優(yōu)化設計的專(zhuān)用型顯微光路
● 光譜采集部分:影像校正光譜和高靈敏型科學(xué)級CCD或單點(diǎn)探測器和數據采集器
● 樣品臺支架部分:xyz三維可調樣品臺(手動(dòng)或自動(dòng))、超低溫樣品臺

參數規格表:

主型號 Flex One
光譜范圍 300-2200nm
光譜分辨率 0.1nm
激發(fā)光可選波長(cháng) 325nm,405nm,442nm,473nm,532nm,633nm,785nm等
探測器 類(lèi)型 制冷型CCD 2000×256 制冷型InGaAs
512×1
制冷型InGaAs
512×1
有效范圍 300-1000nm 800-1700nm 800nm-2200nm
空間分辨率 <100μm
注*:以上為基本規格,詳細規格依據不同配置的選擇會(huì )有差異

 1. 光致發(fā)光(PL)光譜測量

 分別針對材料的正( 紅色) 和負( 綠色) 測試得到光致發(fā)光光譜曲線(xiàn)如下,GaN 的本征發(fā)光峰365nm 附近以及黃帶,InGaN 的發(fā)光峰475nm 附近。

2. 電致發(fā)光(EL)光譜測量

將材料的正負接到直流電源的正負,電壓加到2.5V 時(shí)可以有明顯的藍光發(fā)射,測量其電致發(fā)光光譜曲線(xiàn)如下(紅色),峰值在475nm 附近。

 

● 樣品提供:KingAbdullahUniversity ofScience and Technology提供的基于藍寶石襯底MOCVD 生長(cháng)的 InGaNGaN 量子阱

● 測試條件:325nm激發(fā),功率30mW

● 光譜范圍:340-700nm

 

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